?一種系統(tǒng)化的剖析方法，把五大微觀譜圖剖析技術運用到產(chǎn)品研發(fā)、消費中，處置企業(yè)產(chǎn)品開發(fā)、配方優(yōu)化、功用優(yōu)化、成分驗證等效果

?數(shù)據(jù)模型，原版資料及仿制資料停止的快速質譜剖析及相似度婚配，分解資料量產(chǎn)，競品剖析，評價周期長，試樣時機少項目，指明方向，降低風險

?從分別方案、痕量剖析儀器、驗證實驗，剖析工程師資歷等多方面精細化、專注化，針對微量物質關注高、復雜反響機理的項目，進一步加快研發(fā)進度，延長正交實驗進程

?極度敏感實驗環(huán)境，*化前處置，*痕量剖析儀器，可復制的檢測剖析進程控制，為追求*質量客戶提供：無機物ppm、無機物ppt級別準確度檢測剖析結果

資料成分剖析可分為三小氣面：資料結構的測定、資料形貌的觀察和資料成分的剖析。資料成分剖析主要是經(jīng)過各項檢測手腕對樣品的成分停止定性定量的剖析。

以下引見幾種罕見的資料成分剖析方法：

1、化學剖析法：應用物質化學反響為基礎的剖析方法，稱為化學剖析法。每種物質都有其共同的化學特性，我們可以應用物質間的化學反響并將其以一種適當?shù)姆绞酵Ｖ贡碚鳎靡灾甘痉错懙倪M程，從而失掉資料中某些組分解分的含量；

2、原子光譜法：原子光譜是原子吸收或收回光子的強度關于光子能量（通常以波長表示）的圖譜，可以提供關于樣品化學組成的相關信息。原子光譜分為三大類：原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜；

3、X射線能量色散譜法（EDX）：EDX常與電子顯微鏡配合運用，它是測量電子與試樣相互作用所發(fā)生的特征X射線的波長與強度，從而對龐大區(qū)域所含元素停止定性或定量剖析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激起試樣所發(fā)生的特征X射線波長的種類，即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素發(fā)生的特征X射線強度成正比，據(jù)此可以測定元素的含量；

4、電子能譜剖析法：電子能譜剖析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子遭到激起而發(fā)射出來，然后測量這些電子的強度與能量的散布，從而取得資料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，所以它僅僅是外表成分的反響；

5、X射線衍射法（XRD）：XRD也可以輔佐用來停止物相的定量剖析。它的依據(jù)是，物相的衍射線強度隨著含量的添加而提高。但是并不成正比，需求加以修正，采用Jade順序就可以對物相停止定量剖析；

6、質譜法（MS）：它是將被測物質離子化，按離子的質荷比分別，測量各種離子譜峰的強度而完成剖析目的的一種剖析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜（簡稱質譜），應用這一性質，可以停止定性剖析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量剖析；

7、分光光度計法：分光光度計采用一個可以發(fā)生多個波長的光源，經(jīng)過系列分光裝置，從而發(fā)生特定波長的光源，光線透過測試的樣品后，局部光線被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計；

8、火花直讀光譜儀：火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激起而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長陳列的“光譜”，這些元素的特征光譜線經(jīng)過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并停止模/數(shù)轉換，然后由計算機處置，并打印出各元素的百分含量。

資料成分剖析可分為三小氣面：資料結構的測定、資料形貌的觀察和資料成分的剖析。資料成分剖析主要是經(jīng)過各項檢測手腕對樣品的成分停止定性定量的剖析。

以下引見幾種罕見的資料成分剖析方法：

1、化學剖析法：應用物質化學反響為基礎的剖析方法，稱為化學剖析法。每種物質都有其共同的化學特性，我們可以應用物質間的化學反響并將其以一種適當?shù)姆绞酵Ｖ贡碚鳎靡灾甘痉错懙倪M程，從而失掉資料中某些組分解分的含量；

2、原子光譜法：原子光譜是原子吸收或收回光子的強度關于光子能量（通常以波長表示）的圖譜，可以提供關于樣品化學組成的相關信息。原子光譜分為三大類：原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜；

3、X射線能量色散譜法（EDX）：EDX常與電子顯微鏡配合運用，它是測量電子與試樣相互作用所發(fā)生的特征X射線的波長與強度，從而對龐大區(qū)域所含元素停止定性或定量剖析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激起試樣所發(fā)生的特征X射線波長的種類，即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素發(fā)生的特征X射線強度成正比，據(jù)此可以測定元素的含量；

4、電子能譜剖析法：電子能譜剖析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子遭到激起而發(fā)射出來，然后測量這些電子的強度與能量的散布，從而取得資料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，所以它僅僅是外表成分的反響；

5、X射線衍射法（XRD）：XRD也可以輔佐用來停止物相的定量剖析。它的依據(jù)是，物相的衍射線強度隨著含量的添加而提高。但是并不成正比，需求加以修正，采用Jade順序就可以對物相停止定量剖析；

6、質譜法（MS）：它是將被測物質離子化，按離子的質荷比分別，測量各種離子譜峰的強度而完成剖析目的的一種剖析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜（簡稱質譜），應用這一性質，可以停止定性剖析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量剖析；

7、分光光度計法：分光光度計采用一個可以發(fā)生多個波長的光源，經(jīng)過系列分光裝置，從而發(fā)生特定波長的光源，光線透過測試的樣品后，局部光線被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計；

8、火花直讀光譜儀：火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激起而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長陳列的“光譜”，這些元素的特征光譜線經(jīng)過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并停止模/數(shù)轉換，然后由計算機處置，并打印出各元素的百分含量。